TOPOS Interferometrični Merilni Sistemi

TOPOS Interferometrični merilni sistemi za brezstično preverjanje ravnosti natančno obdelanih delov TOPOS interferometri delujejo po načelu padajoče svetlobe, kar omogoča merjenje ravnosti tudi bolj grobih delov, ki ne prikazujejo več slikovnih pasov pri ploskem steklu ali Fizeau interferometru. Iz slike interferenčnih pasov računalnik določi ravnost dela. Poleg brušenih ali fino obdelanih delov so merljivi tudi polirani deli. Deli so lahko izdelani iz različnih materialov: - Kovina (jeklo, aluminij, bron, baker itd.) - Keramika (AL2O3, SiC, SiN itd.) - Plastika - itd. Interferometri se lahko postavijo v proizvodnji v bližini obdelovalne naprave. Absolutna natančnost znaša do 0,1 µm preko celotnega merilnega polja.