Izdelki za astronomske mreže za napredne korisnike (4)

Merilni Mikroskop MS1

Merilni Mikroskop MS1

Valuable, portable measuring microscope with integrated coaxial and angular incident illumination. steady, anodized aluminium body focussing by knurled ring and fine-pitch thread transformer with LED or battery LED lamp Magnifications:20x tos 800x Fields of view:8.9 mm to 0.35 mm Measurement range:Z 8 mm
Merski sistem CoMeT - EMC merilna tehnologija

Merski sistem CoMeT - EMC merilna tehnologija

System CoMeT służy do pomiaru skuteczności ekranowania (impedancji przenoszenia, tłumienności ekranowania i tłumienności sprzężenia) kabli koncentrycznych i symetrycznych, złącz, tulei, elementów rozdzielczych itp. Oryginalny CoMeT (Coupling Measuring Tube) stał się kompletnym systemem. Zasadniczo kablowa stacja pomiarowa składa się z następujących elementów podstawowych: Oprócz systemów rur okrągłych o różnych wymiarach dla kabli i złączy, istnieją również tzw. cele "triaxialne", które oferują większą objętość komory pomiarowej dla części, które ze względu na swoją geometrię (gniazda, rozdzielacze, itp.) nie mogą być wprowadzone do jednej z rur.
Nexview™ NX2 - Optični 3D profilometer površine

Nexview™ NX2 - Optični 3D profilometer površine

Der optische 3D-Profilometer Nexview™ NX2 wurde für die anspruchsvollsten Anwendungen entwickelt und kombiniert besonders hohe Präzision, fortschrittliche Algorithmen, Anwendungsflexibilität und Automatisierung in einem einzigen Paket, und ist somit ZYGOs fortschrittlichster scannendes Weisslichtinterferometer (CSI) Profilometer. Diese vollständig berührungslose Technologie optimiert die Rentabilität, indem sie bei allen Vergrößerungen die gleiche Sub-Nanometer-Präzision liefert und eine größere Bandbreite von Oberflächen schneller und präziser misst als andere vergleichbare kommerziell erhältliche Technologien. Mit den verschiedensten Anwendungen wie Ebenheit, Rauheit, Welligkeit, Dünnschichten, Stufenhöhen usw. ist das Nexview NX2 für praktisch jede Oberfläche und jedes Material das kompromisslose Profilometer. 1,9 MP Großflächen Hochgeschwindigkeitsmessungen Automatisierte Teilefokussierung und -einstellung Messmitelfähige Performance Die vibrationsresistente Messtechnik
Prilagojen sistem pozicioniranja s stojalom za OEM mikroskop

Prilagojen sistem pozicioniranja s stojalom za OEM mikroskop

stable granite and iron cast stand with manual z-adjustment high performance stepper motion controller with joystick and serial interface XY Stage GT8, Rotary Stage RT5, Wafer-Chuck WC6 precise xy stage GT8 with 200 x 200 mm stroke rotary stage RT5 with high round- and flat runout below 5 µm wafer-chuck WC6 for 4-12" wafer wafer-chuck with vacuum-fixture for 12", 10", 8", 6" and 4" wafer