Sistemi za merjenje debeline za elektrodne filme - Merilni sistemi za proizvodnjo baterij

Micro-Epsilon ponuja široko paleto sistemov za merjenje debeline za različne zahteve in področja uporabe v premaznih linijah. Debelinsko merjenje C-okvirov je zasnovano za zelo zahtevne okolje, kot je suho premazovanje. Njihov robusten okvir in vgrajena funkcija kompenzacije temperature zagotavljata visoko natančnost merjenja tudi pri visokih ambientnih temperaturah. Poleg tega so sistemi na voljo v različnih zasnovah, specifičnih za aplikacije, za različne širine filmov z do 8 merilnimi trakovi.