Analiza Ogljika - Žvepla

Karbonska spojina kot organski ogljik (TOC), anorganski ogljik (TIC) ali skupni ogljik (TC) ter žveplo kot skupna vsebnost žvepla in njegove oksidacijske oblike se hkrati določajo v kombinaciji indukcijske in odporne peči (tehnologija EDF). Analiza C/S temelji na zgorevanju vzorcev v toku kisika in IR-detekciji postopoma nastajajočih plinov CO2 in SO3. Frakcionirano določanje prostega ogljika, prostega žvepla, karbidov in sulfatov je mogoče zaradi različnih temperatur zgorevanja. Anorganski vzorci (med drugim legirani in nelegirani jeklo, litina, baker in bakrene zlitine, keramika, rude, cement, apno, gips, pesek, steklo, kamnine) in organski vzorci (med drugim premog, koks, les, saje, guma, odpadki, tla, rastline, mineralna olja) se lahko analizirajo s težo vzorca 500 mg v razponu od 0,1 % do 5 % za ogljik in od 0,3 % do 30 % za žveplo.