Leica EM TIC 3X

Leica EM TIC 3X

Trojni ionski žarek za jedkanje Leica EM TIC 3X omogoča izdelavo prereza in ravnih površin za skenirajočo elektronsko mikroskopijo (Scanning Electron Microscopy - SEM), mikrostrukturne analize (EDS, WDS, Auger, EBSD) in AFM preiskave. Z Leica EM TIC 3X proizvajate pri sobni temperaturi ali pri zamrznjenih vzorcih iz skoraj vsakega materiala visokokakovostne površine, tako da notranje strukture ostanejo v čim bolj prvotnem stanju.

Aplikacija europages je tu!

Uporabite naše izboljšano iskanje ponudnikov ali ustvarite povpraševanja na poti z novo aplikacijo europages za kupce.

Prenos v trgovini App Store

App StoreGoogle Play