Leica EM TXP

Leica EM TXP je edinstveno orodje za pripravo vzorcev, ki je bilo posebej zasnovano za frezanje, žaganje, brušenje in poliranje vzorcev pred preiskavo z REM (rastrskim elektronskim mikroskopom), TEM (prenosnim elektronskim mikroskopom) ali LM (svetlobnim mikroskopom). Zahvaljujoč vgrajenemu stereomikroskopu je mogoče tudi težko prepoznavne cilje natančno lokalizirati in brez težav pripraviti. S pomočjo ročice za nagib vzorca lahko vzorec neposredno opazujemo pod kotom med 0° in 60° oziroma 90° - v odnosu na sprednjo stran - in razdaljo lahko določimo s pomočjo okularne mrežice.