Leica EM TXP – Sistem za Površino Cilja

Pripomoček za pripravo tarče Leica EM TXP je namenjen frezanju, rezanju, prašenju in poliranju vzorcev pred pregledom z elektronskim mikroskopom s prenosom (TEM) in elektronskim mikroskopom s skeniranjem (SEM), pa tudi z optičnimi mikroskopskimi tehnikami (LM). Vgrajen stereomikroskop omogoča enostavno lokalizacijo in pripravo komaj vidnih tarč; s pomočjo rotirajoče roke je mogoče vzorec neposredno opazovati pod kotom med 0° in 60°, ali 90° glede na sprednjo stran, da se določi razdalja z očesno mrežo.