Rondcom Nex 200/300 Rs
Rondcom Nex 200/300 Rs

Rondcom Nex 200/300 Rs

Merjenje površin z najvišjo natančnostjo - visoka stabilnost merilnega sistema in merilnih rezultatov - spiralna merjenja za hitre analize valjev, merjenje stožčaste oblike z istočasnim postopkom R- in Z-os - merjenje površin z najvišjo natančnostjo - vibracijam odporna zračna ležaja, visoko ločljive merilne lestvice za premik in vrtilno os ter prilagojena hitrost vrtenja
Podobni izdelki
1/15
ES WELD Varilni Laser
ES WELD Varilni Laser
Laserna mikrosvarilna naprava za različne materiale in delovne kose Varilna naprava razreda 1 z pulznim vlakenskim laserjem za delovne kose različnih...
DE-70565 Stuttgart
Merilna naprava za kable VCPLab - Sistem na osnovi kamere za merjenje geometrij kablov na izolacijskih ovojnicah in plaščih
Merilna naprava za kable VCPLab - Sistem na osnovi kamere za merjenje geometrij kablov na izolacijskih ovojnicah in plaščih
Podrobnosti o napravi: ■ Ohišje kot zaščita pred zunanjim svetlobnim vplivom ■ Osrednji upravljalni del ■ Polavtomatsko fokusiranje in osvetlitev ■ Od...
DE-98527 Suhl
TOPOS Interferometrični Merilni Sistemi
TOPOS Interferometrični Merilni Sistemi
TOPOS Interferometrični merilni sistemi za brezstično preverjanje ravnosti natančno obdelanih delov TOPOS interferometri delujejo po načelu padajoče ...
DE-70619 Stuttgart
Merjenje Zobnikov
Merjenje Zobnikov
Z uporabo posebnih merilnih naprav vam lahko izmerimo zobnike (zunanje in notranje) v vseh različicah, od 10 do 420 mm v zunanjem premeru. Posebej im...
CH-3360 Herzogenbuchsee
Polavtomatsko Polnjenje
Polavtomatsko Polnjenje
100 % varnost oskrbe je zagotovljena z dobro premišljeno programsko opremo. Polavtomat SM902 zagotavlja 100 % varnost oskrbe z vgrajenimi merilnimi s...
DE-92280 Kastl
DELOVNA POSTAJA
DELOVNA POSTAJA
WORKSTATION je univerzalna kabina za lasersko obdelavo za različne aplikacije laserskega označevanja in strukturiranja. Opremljena z nanosekundnimi al...
DE-91242 Ottensoos
CryoSAS - Kriogeni Sistem za Analizo Silikona
CryoSAS - Kriogeni Sistem za Analizo Silikona
Sistem za analizo kriogene silicijevega (CryoSAS) podjetja Bruker Optics je specializiran vse-v-enem sistem za analizo nečistoč silicija pri nizkih te...
DE-76275 Ettlingen
iXRAY - Rentgenski merilni sistem - iXRAY rešuje vse merilne naloge za enoplastne in večplastne cevi ter cevi
iXRAY - Rentgenski merilni sistem - iXRAY rešuje vse merilne naloge za enoplastne in večplastne cevi ter cevi
iXRAY rešuje skoraj vse naloge merjenja, avtomatizacije in dokumentacije za enoslojne in večslojne cevi ter cevi. Zaradi natančne prostorske ločljivos...
DE-49324 Melle
Digitalni Merilni Projektor
Digitalni Merilni Projektor
Pomembno je, da je obdelovanec čim bolj čist in brez ostružkov, da dobimo dobre meritve. Dimenzijska merilna tehnika: Profilni projektor / Meroskop /...
CH-5630 Muri
Zagotavljanje kakovosti
Zagotavljanje kakovosti
1 Zeiss Contura G2 Koordinatni merilni stroj...
DE-89335 Ichenhausen
3D AOI Pregled Elektronskih Sestav
3D AOI Pregled Elektronskih Sestav
Inšpekcija sklopov z uporabo najsodobnejše 3D AOI tehnologije Celovita kontrola sklopov z uporabo najnovejše 3D AOI tehnologije.
CH-8863 Buttikon
Merjenje plač
Merjenje plač
Merjenje plač vseh vrst na koordinatnih merilnih napravah • Prva vzorčenja po VDA • CNC programiranje za vaš ZEISS KMG, vključno s pripravo merilnih ...
DE-73441 Bopfingen
Vitrolux E - Sistemi za graviranje stekla za srednje velike plošče in masovno proizvodnjo
Vitrolux E - Sistemi za graviranje stekla za srednje velike plošče in masovno proizvodnjo
Vitrolux E - Serija z gravurnimi površinami v razponu od 700 x 600 mm do 1.200 x 1.400 mm Sistem Vitrolux E ponuja srednje velike delovne površine, k...
DE-32423 Minden
Offline merilnik folij VDM - Merilna postaja za merjenje debeline vzorcev plastičnih folij
Offline merilnik folij VDM - Merilna postaja za merjenje debeline vzorcev plastičnih folij
Merjenje debeline na vzorcih plastične folije zahteva avtomatski transport folijskih trakov skozi merilno napravo, kar omogoča prilagodljivost merjene...
DE-58093 Hagen
Phenom ParticleX TC Desktop REM
Phenom ParticleX TC Desktop REM
Analiza čistoče komponentov z vsestranskim namiznim SEM, povečava 200.000x, <10nm ločljivost, EDX elementalna analiza in SED kot možnosti.
DE-63225 Langen