Merilnik Debeline - Kompaktni O-okvir za Separator Film - Merilni Sistemi za Proizvodnjo Baterij
Merilnik Debeline - Kompaktni O-okvir za Separator Film - Merilni Sistemi za Proizvodnjo BaterijMerilnik Debeline - Kompaktni O-okvir za Separator Film - Merilni Sistemi za Proizvodnjo BaterijMerilnik Debeline - Kompaktni O-okvir za Separator Film - Merilni Sistemi za Proizvodnjo Baterij

Merilnik Debeline - Kompaktni O-okvir za Separator Film - Merilni Sistemi za Proizvodnjo Baterij

DeblečinaGAUGE O.IMS se uporablja za stabilno merjenje debeline premaza na separatorju. Sistem je zasnovan kot kompakten O-okvir in uporablja bele svetlobne interferometre, ki se premikajo nad filmsko baterijo. Zahvaljujoč inovativni tehnologiji je merjenje debeline brez stika in poteka le z ene strani. Dva transportna valja stabilizirata filmski trak.
Podobni izdelki
1/15
Merilec debeline - Kompaktni C-okviri za elektrode - Merilni sistemi za proizvodnjo baterij
Merilec debeline - Kompaktni C-okviri za elektrode - Merilni sistemi za proizvodnjo baterij
senzorji thicknessGAUGE se uporabljajo za merjenje debeline trakovnih materialov v realnem času. Več modelov z različnimi tipi senzorjev, merilnimi ra...
DE-94496 Ortenburg
Sistemi za merjenje debeline za elektrodne filme - Merilni sistemi za proizvodnjo baterij
Sistemi za merjenje debeline za elektrodne filme - Merilni sistemi za proizvodnjo baterij
Micro-Epsilon ponuja široko paleto sistemov za merjenje debeline za različne zahteve in področja uporabe v premaznih linijah. Debelinsko merjenje C-ok...
DE-94496 Ortenburg
Merilec debeline C.ll - Senzorski sistem za natančna merjenja debeline
Merilec debeline C.ll - Senzorski sistem za natančna merjenja debeline
thicknessGAUGE C.LL senzorji uporabljajo laserske triangulacijske senzorje za merjenje debeline. Ti laserski senzorji omogočajo visoke merilne hitrost...
DE-94496 Ortenburg
Merilnik debeline C.c - Senzorski sistem za natančna merjenja debeline
Merilnik debeline C.c - Senzorski sistem za natančna merjenja debeline
Senzorske sisteme thicknessGAUGE C.C uporabljajo konfokalne kromatske senzorje za merjenje debeline. Senzorji omogočajo izvajanje meritev z izjemno na...
DE-94496 Ortenburg
Merilnik debeline O.ec - Senzorski sistem za natančna merjenja debeline
Merilnik debeline O.ec - Senzorski sistem za natančna merjenja debeline
Debljinoměr O.EC je kompaktni merilni sistem v stabilni O-konstrukciji z aluminijastim valjem in integriranim kontrolnim kabinetom. Sistem se uporablj...
DE-94496 Ortenburg
Merjenje Debeline Kalendrov - Merilni instrumenti in inšpekcijski sistemi za plastiko
Merjenje Debeline Kalendrov - Merilni instrumenti in inšpekcijski sistemi za plastiko
Za proizvodnjo navitih upornikov ali ploščatih materialov v kalandrih je merjenje debeline ključen dejavnik za nadzor in spremljanje proizvodnega proc...
DE-94496 Ortenburg
Premer valja ekstruderja - Merilni instrumenti in inšpekcijski sistemi za plastiko
Premer valja ekstruderja - Merilni instrumenti in inšpekcijski sistemi za plastiko
Sistem senzorjev idiamCONTROL natančno meri notranji premer vrtin, kot so tisti v ekstruderjih, da bi določil obrabo. idiamCONTROL se vpelje v vrtino ...
DE-94496 Ortenburg
Ims5420-th Sistem za merjenje debeline waferjev - Interferometri (bela svetloba)
Ims5420-th Sistem za merjenje debeline waferjev - Interferometri (bela svetloba)
IMS5420 je visokozmogljiv interferometer za belo svetlobo, namenjen brezstični meritvi debeline monokristalnih silicijevih waferjev. Krmilnik ima širo...
DE-94496 Ortenburg
Senzorski sistem za natančna merjenja debeline - Merilni sistemi
Senzorski sistem za natančna merjenja debeline - Merilni sistemi
senzorske sisteme za debelinoGAUGE se uporabljajo za natančna merjenja debeline trakov, plošč in listov do 50 mm. Več modelov z različnimi tipi senzor...
DE-94496 Ortenburg
Merjenje debeline v vročih kalendrih - Merilni instrumenti in inšpekcijski sistemi za plastiko
Merjenje debeline v vročih kalendrih - Merilni instrumenti in inšpekcijski sistemi za plastiko
Sistemi družine FTS ponujajo meritve debeline z izjemno stabilnostjo in natančnostjo. Njihova uporaba v ekstrudnih linijah zagotavlja zanesljive meril...
DE-94496 Ortenburg
Merenje debeline profila offline - Merilni in inšpekcijski sistemi za gumo in pnevmatike
Merenje debeline profila offline - Merilni in inšpekcijski sistemi za gumo in pnevmatike
Profilometer thicknessCONTROL TCP8301.T-Offline se uporablja za vzorčenje v zvezi s procesom ekstrudiranja materialov za tekalne plasti, stranske sten...
DE-94496 Ortenburg
Merilne naprave in inšpekcijski sistemi za plastiko - Merilni sistemi
Merilne naprave in inšpekcijski sistemi za plastiko - Merilni sistemi
Merilne naprave in inšpekcijski sistemi podjetja Micro-Epsilon se uporabljajo v industriji predelave plastike za zagotavljanje učinkovite proizvodnje.
DE-94496 Ortenburg
Optični Natančni Mikrometer - 2D/3D meritev
Optični Natančni Mikrometer - 2D/3D meritev
Optični mikrometri podjetja Micro-Epsilon delujejo po principu prenesene svetlobe (ThruBeam mikrometer). Tukaj oddajnik proizvaja paralelno svetlobno ...
DE-94496 Ortenburg
Merjenje debeline profila namestitve valjčne glave - Merilni instrumenti in inšpekcijski sistemi za plastiko
Merjenje debeline profila namestitve valjčne glave - Merilni instrumenti in inšpekcijski sistemi za plastiko
Za proizvodnjo navitih upornikov ali ploščatih izdelkov na napravah z valjčnimi glavami je merjenje debeline ključni dejavnik za nadzor in spremljanje...
DE-94496 Ortenburg
Merjenje teže pnevmatik - Merilni in inšpekcijski sistemi za gumo in pnevmatike
Merjenje teže pnevmatik - Merilni in inšpekcijski sistemi za gumo in pnevmatike
Sistem dimensionCONTROL TMWI 8302.LC je primeren za inline preverjanje teže neprekinjeno delujočih gumijastih profilov (profil tekalne plasti ali stra...
DE-94496 Ortenburg

Aplikacija europages je tu!

Uporabite naše izboljšano iskanje ponudnikov ali ustvarite povpraševanja na poti z novo aplikacijo europages za kupce.

Prenos v trgovini App Store

App StoreGoogle Play